日立Hitachi紫外-可见-近红外分光光度计UH5700

日立Hitachi紫外-可见-近红外分光光度计UH5700

品牌:日立/Hitachi
产地:日本
型号:UH5700

400-616-7676转3323

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核心参数

光谱范围 :190~3300 nm
带宽:UV‑Vis:0.1‑10 nm;NIR:0.25‑36 nm(连续可变狭缝,自动)
波长精度:±0.3 nm(UV‑Vis);±1.0 nm(NIR)
波长重复性:±0.05 nm(UV‑Vis);±0.2 nm(NIR)

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核心参数

光谱范围

190~3300 nm

带宽

UV‑Vis:0.1‑10 nm;NIR:0.25‑36 nm(连续可变狭缝,自动)

波长精度

±0.3 nm(UV‑Vis);±1.0 nm(NIR)

波长重复性

±0.05 nm(UV‑Vis);±0.2 nm(NIR)

光度计精度

±0.002Abs(0‑0.5Abs);±0.004Abs(0.5‑1.0Abs)

基线漂移

±0.0005Abs/h(500nm,室温)

基线平直

±0.002Abs(200‑3200nm)

仪器介绍

日立Hitachi紫外-可见-近红外分光光度计UH5700
紫外/可见/近红外分光光度计UH5700支持从紫外区到近红外区的广范围波长区域的固体,液体样品测定。它采用全新的数据处理软件,操作起来更加简便。
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特点

低杂散光、超大测光范围

采用Czerny-Turner高光量单色器和新研发的光栅,实现了同级别设备最佳的低杂散光/超大测光范围*1。


低噪音、宽测定波长范围

采用连续可变狭缝,在近红外波长区测定低光量时,自动加宽狭缝;测定高光量时,自动减小狭缝宽度。支持低噪音测定超大范围波长区域。


采用全新的数据处理软件,操作更加便捷

新数据处理软件在深受用户好评的UV Solutions上作了进一步的技术升级。新增了数据表和数据处理结果的列表显示功能、报告格式的自定义功能、仪器性能检查功能。


提供丰富的配件,支持液体到固体样品的测定

各种配件一应俱全,满足分光光度计的多种测定需求,如溶液中微量样品的测定和片状样品、薄膜样品等材料样品的测定等。

简要介绍

UH5700 为日立高新技术双光束紫外‑可见‑近红外分光光度计,波长覆盖190‑3300 nm,紫外‑可见采用光电倍增管 PMT,近红外采用冷却 PbS 检测器,一次完成 UV‑Vis‑NIR 全波段扫描。搭载连续可变自动狭缝,可根据样品光能量自动调节带宽,兼顾分辨率与信噪比;采用 Czerny‑Turner 单色器,低杂散光。支持液体、薄膜、固体粉末、玻璃、纤维等样品;可选配积分球、固体样品架、薄膜支架、偏振附件。广泛用于材料光学性能、薄膜光学常数、带隙计算、纺织品紫外阻隔、溶液定量、药物、高分子、光伏材料等检测。扫描速度最高 5000 nm/min,配套 UV Solutions 软件,支持光谱采集、定量计算、报告输出。

核心硬件要点

光路:双光束,Czerny‑Turner 单色器

光源:氘灯 D2(紫外)、钨卤素灯 WI(可见‑近红外)

检测器:UV‑Vis:PMT 光电倍增管;NIR:冷却 PbS

狭缝:连续可变自动狭缝

扫描速度:最高 5000 nm/min

实际案例用途

案例 1:光学薄膜、涂层、玻璃镜片测试

样品:光学镀膜、ITO 导电膜、玻璃、滤光片

测试:透射 / 反射光谱,计算透过率、反射率、折射率、薄膜带隙;评估光学元件光谱性能。

案例 2:光伏、半导体材料

样品:硅片、钙钛矿薄膜、光电材料

测试:紫外‑可见‑近红外全波段吸收光谱,计算光学带隙,评估光吸收特性。

案例 3:纺织品、布料防紫外线性能检测

样品:防晒面料、纤维织物

配合积分球附件,按 JIS L1925 标准测试紫外线遮蔽率 UPF,评价防晒面料性能。

案例 4:高分子、塑料、涂料

样品:塑料薄膜、涂层、树脂

测试全波段透过 / 吸收,评估耐紫外老化、阻隔性能。

案例 5:溶液定量分析(生化、药物、环境)

样品:核酸蛋白溶液、药物溶液、水质样品

朗伯比尔定律,特定波长测吸光度做浓度定量。

案例 6:粉末、固体漫反射测试

选配积分球,粉末、颜料、陶瓷做漫反射光谱,做颜色、成分定性分析。

✅适合:液体溶液、薄膜、玻璃、纤维、粉末固体;UV‑Vis‑NIR 全波段透射 / 反射 / 吸收测试。


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