OTSUKA 大塚电子 Zeta 电位・粒径测试系统 ELSZneoSE

OTSUKA 大塚电子 Zeta 电位・粒径测试系统 ELSZneoSE

特色：

可根据应用添加功能（分子量测量、颗粒浓度测量、微观流变测量、凝胶网格结构分析、多角度颗粒直径测量）

使用标准流单元连续测量颗粒直径和ζ势

能够测量颗粒直径和 ζ电能，范围范围广泛，从稀释溶液到浓缩溶液（~40%）

能够在高盐度条件下测量平面样品中的ζ电位

可在0~90°C的宽温范围内进行测量

温度梯度函数支持蛋白质及其他材料的变性和相变温度分析

通过实际测量细胞内的电渗透流动和绘图分析，提供高度精确的ζ电位测量结果。

可安装荧光切割滤光片（可选）

目的

它非常适合基础和应用研究，不仅涉及细颗粒，还涉及薄膜和平面样品的表面科学，涵盖界面化学、无机材料、生命科学、半导体、高分子、生物学、药学和医学等领域。

新功能材料领域：

燃料电池相关（碳纳米管、富勒烯、纤维素纳米纤维、功能薄膜、催化剂、纳米金属）、生物纳米相关（纳米胶囊、树枝树、DDS、生物纳米颗粒）、纳米气泡、生物相容材料等。

陶瓷与色料行业

陶瓷（二氧化碳、氧化铝、二氧化钛等） 无机溶胶的表面改性、分散与凝集控制颜料的扩散与凝固

控制（碳黑、有机颜料） 浆料样品色彩滤光器关于浮游矿物藏品介质吸附的研究

半导体领域：阐明硅晶圆表面异质附着机制;研析磨料与添加剂及晶圆表面的相互作用;CMP浆液

高分子

与化工行业：乳剂（油漆和粘合剂）的分散与聚集控制，乳胶表面改性（制药和工业），聚合物电解质（如苯乙烯磺酸盐和聚羧酸）功能性研究，功能性纳米颗粒：造纸和纸浆造纸工艺控制及纸浆添加剂研究

制药和食品行业

领域：乳剂（食品、香料、医用、化妆品）、蛋白质功能的分散与聚集控制;脂质体和囊泡的分散与聚集控制，表面活性剂（胶束）的功能性

核心参数：

产品具体介绍

ELSZneoSE 是大塚电子台式纳米粒度及 Zeta 电位分析仪基础版本，标配完成纳米颗粒粒径与 Zeta 电位检测；分子量、粒子浓度、微流变解析、多角度粒径等功能均为选配模块，后期可硬件升级，适配不同预算的科研与工业质控需求。

仪器采用 638nm 半导体激光器搭配 APD 高灵敏度探测器，稀样至 40% 高浓度悬浮液可直接测试，很多样品无需稀释，保留样品真实分散状态。配备 0‑90℃宽域温控系统，支持温度梯度扫描，可开展蛋白变性、颗粒相变、温变稳定性等实验。

支持多种选配样品池：超微量池（3μL 珍贵样品）、高盐溶液池、固体表面 Zeta 电位池、流动循环池；流动池可实现旁路连续监测，适配工艺过程检测。

配套专业分析软件，输出粒径分布、Zeta 电位分布曲线，原始数据可 CSV 导出；可选购 FDA21CFR Part11 合规软件包，满足医药研发体系审核、论文数据归档。

版本区分

ELSZneoSE：基础主机，标配粒径 + Zeta 电位，高阶功能全部选配；

ELSZneo：顶配整机，出厂自带全部高阶功能模块。

实际案例用途

生物医药制剂：脂质体、纳米药物、外泌体、蛋白样品，检测粒径与 Zeta 电位，评估制剂储存分散稳定性，支持生理高盐环境测试。

纳米新材料研发：纳米氧化物、碳材料、量子点，评价改性、分散剂配方效果。

涂料、乳液、锂电浆料：检测浆料带电特性，预判团聚沉降风险，管控批次一致性。

半导体 CMP 抛光液：抛光颗粒粒度、电位质控，保障抛光工艺稳定性。

界面化学研究（选配固体池）：薄膜、基板表面 Zeta 电位测试，评估表面改性和亲疏水带电特性。