OTSUKA 大塚电子 多样品纳米粒径测试系统nanoSAQLA

OTSUKA 大塚电子 多样品纳米粒径测试系统nanoSAQLA 

nanoSAQLA是一种利用动态光散射（DLS）方法测量颗粒尺寸（颗粒直径0.6nm~10μm）的设备。

配备多种功能，进一步满足质量控制的需求。

一种新型光学系统能够在从薄到致密类型等广泛浓度范围内进行多样本测量，实现实验室所需的重量和紧凑度，并在标准1分钟内实现高速测量。

此外，这款新产品非浸入式，不受污染影响，并标配“连续测量5个样品”，无需自动采样器。

特色

一台设备轻松连续测量5个样品。实现多个样品的连续测量，这在没有自动采样仪时是难以实现的。每个样品也可以在不同条件下进行测量。

适合轻到浓烈风味高速测量，标准测量时间为1分钟：自动调整浓度至稀释样品的最佳测量位置，实现约1分钟的高速测量配备简单的测量功能（一键开始测量），操作简洁易懂带有内置非浸入式细胞块的污染凹槽，无需分配。每个单元都是独立的，所以你不用担心污染问题。配备温度梯度功能，温度设置简便。

产品详细介绍

nanoSAQLA 是大塚电子高通量专用纳米粒度分析仪，专注批量样品粒径筛查，本机出厂不具备 Zeta 电位测试能力，分子量测试属于可选模块。

采用 660nm 高功率半导体激光搭配 APD 高灵敏度探测器；标配可连续自动测量 5 个样品，选配 AS50 自动进样器可升级至 50 位高通量检测，适合配方筛选、大量样品质控场景。

采用非浸入式独立样品槽结构，样品之间无接触，有效避免交叉污染；可选用一次性玻璃样品池，适配有机溶剂体系。

温控区间 0‑90℃，温控精度 ±0.1℃，支持温度梯度扫描实验，可开展蛋白变性、颗粒热相变、温变稳定性研究。

样品适配能力强，从极低浓度到 40% 高浓度悬浮浆料可直接测量，很多样品无需稀释，保留原始分散状态。

软件可输出粒度分布曲线、PDI 多分散指数，原始测试数据支持 CSV 导出；配备一键简易测量模式，操作门槛低，数据可用于科研论文、工厂内部质控归档。

版本要点

标配：5 位样品连续测量，仅粒度测试；Zeta 电位完全不支持；分子量需要额外选配模块。

选配 AS50 自动进样器：实现 50 样品高通量自动检测。

实际案例用途

制药行业制剂筛选：脂质体、蛋白、纳米药物，大批量平行样品快速测粒径与 PDI，快速筛选最优制剂配方。

纳米新材料研发：纳米氧化物、碳材料、量子点，批量评价改性、分散剂的效果。

涂料、乳液、油墨研发质控：大量平行配方快速粒度筛查，预判团聚、沉降风险。

半导体 CMP 抛光液检测：多批次抛光颗粒粒度快速检测，管控生产批次一致性。

热稳定性研究：蛋白、高分子样品，温度梯度扫描，观察温度引发的颗粒聚集、变性行为。