OTSUKA 大塚电子多通道光谱仪 MCPD‑9800

OTSUKA 大塚电子多通道光谱仪 MCPD‑9800 

一台多功能多通道光谱仪，兼容紫外至近红外区域。 光谱测量可在短至5毫秒内完成。 使用标准光纤设备，它可以支持各种测量系统，而无需指定样品类型。 通过与软件结合，它能够处理显微光谱学、光源发射、透射和反射测量等，支持物体颜色评估和胶片厚度测量。

特色

针对不同应用量身定制的各种探测器

我们提供涵盖三种类型和12波段的探测器系列，包括高端的MCPD-9800，旨在为您的需求和测量应用量身定制最优探测器。

通信接口支持 USB 和局域网

它配备了通用USB端口和局域网通信，支持远程测量，扩展了便利性和测量应用。

高速高灵敏度测量光谱

利用512ch或1024ch检测元件和探测器内部存储器，可以以高灵敏度和高精度每5毫秒测量紫外、可见光和近红外区域的发射、透射和吸收光谱，这些区域不断变化。

光纤的光学自由

标准光纤允许你自由组装光学系统，不受样品形状或尺寸限制。 此外，它易于与显微镜和大型舞台等其他设备结合，在任何领域都能提供卓越的性能。

可靠性

符合日本工业标准（JIS）标准！ 能够提供高性能光谱仪

MCPD（2285C， 3095C， 3683C）符合日本工业标准JIS Z 8724：2015（光源颜色测量方法）对光谱仪的要求精度，因此你可以放心使用。

产品详细介绍

MCPD‑9800 是大塚电子旗舰级多通道光纤光谱仪，采用制冷型阵列探测器，兼顾实验室高精度检测与工业产线在线监测。整机可更换不同检测模块，覆盖紫外‑可见‑近红外宽波段；全光谱采集速度最快 5ms，兼顾微弱光信号与高速产线检测场景。

通过光纤外接各类探头，可实现透射光谱、吸收光谱、反射光谱、发射光谱、荧光光谱、色度计算，薄膜膜厚解析；可搭配显微分光单元实现微区样品测试；也可配置 Y 型投受光光纤直接嵌入镀膜、涂布生产线，实时监控工艺。

内置多种膜厚解析算法（FFT 傅里叶变换、P‑V 波峰波谷法、最小二乘法），支持单层 / 多层薄膜解析，SiO₂换算膜厚测量区间 65nm‑92μm。

软件支持光谱处理、色度计算、膜厚解析，支持二次开发，可对接 MES 上位机，适配自动化产线闭环控制。

主要实际案例用途

光学薄膜：AR 增透膜、滤光片，透射反射光谱测试，镀膜产线在线膜厚监控。

半导体：晶圆氧化膜、光刻胶膜厚检测，搭配显微单元做微区分光测试。

光源显示行业：LED、OLED 光源发射光谱、色度评价。

材料化工：液体吸收 / 荧光测试、功能涂布膜颜色与膜质控。

科研显微光谱：微小区域样品的反射、透射、荧光光谱采集。