OTSUKA 大塚电子多通道光谱仪 MCPD‑6800

OTSUKA 大塚电子多通道光谱仪 MCPD‑6800 

特色

MCPD-6800 是一个基础的光谱测量与分析系统。 它能够即时进行光谱测量，并通过可自由配置的测量光学系统和多种选项，系统可升级以满足各种需求。 测量波长范围可从四种类型中选择。

测量项目

荧光谱测量

透射与吸收光谱测量

反射光谱测量

荧光测量

物体颜色测量

光源颜色测量（颜色、亮度、照度）

薄膜厚度测量

等离子体发射光谱测量

产品详细介绍

MCPD‑6800 是大塚电子 MCPD 系列标准型多通道光纤光谱仪，采用非制冷 PDA 光电二极管阵列探测器，成本优于 MCPD‑9800，面向常规光谱、色度、薄膜膜厚检测场景。

可更换不同检测模块，覆盖紫外‑可见‑短波近红外波段；最快 5ms 完成一次全光谱采集，支持光纤外接各类探头，实现透射、吸收、反射、发射光谱、色度计算、薄膜膜厚解析。

支持膜厚解析算法（FFT、波峰波谷法、最小二乘法），SiO₂换算膜厚 65nm‑92μm；可对接 Y 型光纤做产线在线监测；支持软件二次开发，对接上位机。

⚠️与旗舰 MCPD‑9800 核心差异

MCPD‑6800：非制冷 PDA 探测器，微弱荧光、低光信号性能有限，性价比高；

MCPD‑9800：电子制冷 CCD/InGaAs，噪声更低、杂散光指标更好，适合微弱光、紫外苛刻样品。

实际案例用途

光学薄膜 / 镀膜：AR 膜、滤光片透射反射光谱、常规膜厚检测，产线基础在线监控。

光源、照明行业：LED、各类光源发射光谱、色度测试。

涂布材料、塑胶、玻璃：颜色、透过反射率质控。

半导体常规膜厚检测：非极微弱信号场景的氧化膜、光刻胶膜厚。

教学科研、常规理化实验室：液体样品吸收透射光谱测试。