OTSUKA 大塚电子 智能薄膜测厚仪SM‑100 系列
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仪器介绍
OTSUKA 大塚电子 智能薄膜测厚仪SM‑100 系列
高精度便携式胶片厚度计：“
无法准确测量你想测量的位置”“
测量结果因人而异”
“测量准确性较差”你在测量
胶片厚度时有过类似的经历吗？ 智能薄膜厚度计具备以下功能，能帮你解决问题。
· 方便的类型，可以带到生产现场
· 使用简便，任何人都能使用
· 即使手持式机也能实现高精度测量
· 即使是成形样品，也可实现无损测量
子型号区分
| 型号 | 定位 | 单层膜厚范围 | 多层膜能力 |
|---|---|---|---|
| SM‑100P（Pro 专业型） | 高端款，支持多层膜 | 0.1‑100 μm | 最多 3 层解析 |
| SM‑100S（Standard 标准型） | 基础款，仅单层膜 | 1‑50 μm | 仅单层膜测量 |
核心技术参数
| 项目 | 规格 |
|---|---|
| 测量光斑 | φ1 mm（标配平面探头） |
| 测量时间 | ≤1 s / 次 |
| 重复性 | 2.1σ：0.01 μm（1μm 氧化硅膜） |
| 整机重量 | 约 1.1 kg，手持便携，内置锂电池 + 外接电源双供电株式会社ロ... |
| 尺寸 | 138×198×61 mm，触控显示屏 |
| 数据输出 | USB 导出文本数据，内置材料折射率库，支持自定义材料参数 |
| 探头选配 | 标配平面探头；可选笔式探头（狭小位置）、非接触台式载台组件大塚電子 |
产品详细介绍
SM‑100 系列是便携式手持型分光膜厚仪，区别 FE‑300F 台式整机，可带到产线现场、来料仓库现场检测，不用局限实验室工位。
无需制作校准曲线，开机即可直接测量；透明基材（PET、玻璃）样品，抑制基板背面反射干扰，适合柔性胶片、涂层样品。
SM‑100P 支持最多 3 层复合薄膜分别解析厚度；SM‑100S 仅单层膜，适合简单涂层快速巡检。
探头线缆可灵活摆动，探头角度 270° 可调；可测平面、局部狭小位置样品；选配笔式探头可测缝隙、边角点位。
整机密闭光路，抗车间环境杂散光；触控屏幕，操作简单，现场人员也可上手使用。
实际落地案例用途
案例 1：光学柔性胶片（PET/PEN 基材）
测试对象：硬质涂层、AR 增透膜、防指纹涂层、保护膜、偏光片涂层
用途：产线现场巡检，来料入库快速抽检，评估涂布厚度，不用取样拿回实验室。
案例 2：显示与光学零部件
测试对象：ITO 导电膜、光学滤光片、各类功能涂层
用途：现场多点快速筛查，不良品快速甄别。
案例 3：半导体、新材料研发
测试对象：光刻胶、保护涂层、各类高分子涂布膜
用途：实验室 + 产线两边通用，小批量工艺验证。
案例 4：汽车、零部件表面涂层
测试对象：脱模涂层、防水防潮涂层、DLC 硬质涂层
用途：工件边角、狭小位置点位，选配笔式探头完成局部点位测量。
可选配件
笔式探头：狭小位置、异形工件点位测量
台式非接触载台组件：把主机固定，当作简易台式膜厚仪使用
标准校准膜片；USB 数据导出软件
