OTSUKA 大塚电子 延迟（相位差）测量装置RETS‑100nx
400-616-7676转3323
仪器介绍
OTSUKA 大塚电子 延迟（相位差）测量装置RETS‑100nx
这是一种与各种胶片兼容的文字测量装置，包括用于OLED的偏光片、层压相差胶片以及带有IPS液晶相差胶片的偏光片。
实现高速高精度测量，支持超高Re.60000nm。
可以测量胶片的层压状态，而不剥落或破坏胶片。
此外，在操作方面，它配备了易于使用的软件和校正功能，以解决样品重新定位引起的错位，实现简单且高精度的测量。
特色
我们专有光谱仪实现的高精度测量
■ 高精度
通过多波长测量实现
<高精度的原因>
·使用
专有高性能多通道光谱仪 ·提供大量透射信息，实现高精度
测量（ 获得的透射信息约为500个波长，约为其他公司产品的50倍。
■ 宽测量范围（延迟范围：0 ~ 60,000nm）
■ 理解延迟波长色散的形状
超高折射测量——支持超双折射薄膜的高速高精度测量——
■ 高留任率
多层测量——测量薄膜的各种堆叠状态，避免剥落且无损——
轴角校正函数——即使样品位置不对准，测量依然简单且准确——
■ 将样品重新定位10次，并比较有无角度校正的结果
【样品：相差胶片R85】
简单的软件——显著缩短测量和处理时间。 极大提升的可用性——
核心参数：
| 表单字段 | RETS‑100nx 填写值 |
|---|---|
| 光谱范围 | 400‑800nm（可扩展其他波段选配） |
| 光斑尺寸 | φ7mm（标准；可选 φ2/φ5/φ10mm）otsukael.c... |
| 入射角 | 垂直入射 0°；选配倾斜旋转载台实现斜入射 Rth 测量otsukael.c... |
| 测量速度 | 多通道光谱高速采集 |
| 单次测量时间 | 数秒 / 单点 |
| 样品尺寸 | 标准载台 100×100mm；可兼容大尺寸基板，最小样品 20×20mm |
| 光谱测试间隔 | 1nm |
| 膜厚测量准确度 | 无此项参数☑勾选（本机测相位差，非膜厚） |
| 测量重复性 | 延迟量 3σ≤0.08nm；轴角度 3σ≤0.08°（石英波片 600nm） |
| 直射测量准确度 | 无此项参数☑勾选 |
核心规格
延迟测量范围：0‑60000 nm，支持反向色散补偿膜测试
测量项目
光学薄膜：Re 面内延迟、Rth 厚度方向延迟、慢轴方位角、三维 nx/ny/nz 折射率（需倾斜台选件）
偏光片：吸收轴、偏光度、消光比、透过光谱
液晶盒：Cell‑Gap 盒厚 0‑600μm (Δn=0.1)、预倾角、扭曲角、取向角
硬件：100W 卤素光源，整机 480 (W)×520 (D)×765 (H) mm
特色功能：轴角自动补偿，样品摆放偏移不影响结果；多层复合膜直接分层解析，无需剥离样品
实际落地案例
OLED 圆偏光片：多层堆叠圆偏振片，不拆解直接测每层 Re/Rth、层间夹角，分析漏光、色偏，来料品质管控。
LCD 显示行业：IPS/VA 相位差补偿膜、TAC/COP 膜；液晶盒 Cell‑Gap 盒厚检测，研发与来料抽检。
车载光学、光学元器件：波片、光学补偿膜新材料配方评价。
可选配件
自动倾斜旋转载台（Rth 三维折射率解析）
XY 自动扫描载台，Mapping 面分布测量
标准石英波片校准样片
