OTSUKA 大塚电子 量子效率（量子产率）测量系统QE‑2100

OTSUKA 大塚电子 量子效率（量子产率）测量系统QE‑2100 

绝对量子效率（绝对量子产率）可以瞬间测量。 我们处理粉末样品、溶液样品、固体（薄膜）和薄膜样品。 低推测多通道光谱仪大幅减少紫外区的杂散光。 此外，采用集成半球单元实现了明亮光学系统，利用这一优势，重激发荧光校正实现了高精度测量。 此外，它支持温度依赖性的量子效率测量，以及从紫外到近红外的宽波长范围。

特色

致力于高精度测量

绝对量子效率（绝对量子产额）的即时测量是可能的。

可以去除重新激发的荧光发射。

采用积分半球单元实现了明亮光学系统

采用低散射光多通道分光光度计，极大减少了紫外区的杂散光。

通过温度控制函数（50~300°C），可以测量量子效率（量子屈服率）对温度的依赖性。

兼容从紫外到近红外的宽带规范（300~1600nm）

注重操作简便

使用专用软件操作简便

样品测量单元的轻松安装和拆卸

紧凑设计，空间最小

通过使用光谱仪式激发光源，可以选择任意波长。

通过在软件中指定激发波长和阶跃值，可以实现自动测量。

专注于多功能

支持粉末、溶液、固体（薄膜）和薄膜样品

广泛的分析特征

测量项目

量子效率（量子产率）测量

激发波长依赖测量

荧光谱测量

PL激发谱测量

激发发射矩阵（EEM）测量

目的

LED和有机电磁电光元件磷光粉的量子效率（量子产率）测量

薄膜样品透射率和反射荧光

量子效率（量子产率）测量——用于远程膋石等的荧光样品等。

量子点、荧光探针、生物场、封装化合物等的荧光测量。

染色敏感太阳能电池量子效率（量子产率）测量

复杂化合物的测量

 高精度的原因

1. 利用积分半球的理想光学系统

QE-2100配备了集成半球。 与整球（全局）相比，整半球具有以下特征

由于非发射部件（如支架）可以外部曝光，可以最大限度地减少自吸收，从而实现理想的光学系统

镜子在同一点将照度翻倍，实现高度灵敏度测量。

样品测量单元的安装和拆卸简便，几乎没有损坏内部积分球的风险

2. 使用重激发荧光校正函数观察“真实性质值”

当状态包含重激发荧光发射时，观测结果更多是设备的特性而非材料本身，因此无法确定真实的物理性质值。 QE-2100通过重激发荧光校正实现简单且高精度的测量，充分利用积分半球的优势。

3. 利用低游离光多通道分光光度计减少紫外区的杂散光

传统探测器（多铬酸酯）在紫外区域检测到大量散射光，因此不适合测量量子效率（量子产率）。 在大塚电子，我们开发了去除杂散光的技术，解决了这一问题。 安装在QE-2100上的多通道光谱仪，使得与我们以往产品相比，杂散光量约为五分之一，即使在紫外波段也能实现高度精确的测量。

核心参数：

产品详细介绍

QE‑2100 是绝对量子产率测量系统，升级自 QE‑2000，采用 φ150mm 积分半球单元，低迷光电子冷却 CCD 检测器，可自动扣除再激发荧光带来的测量误差，大幅提升高量子效率样品测试精度。

核心测量项目

绝对量子效率：内部量子效率 IQE、外部量子效率 EQE（量子产率）

发光光谱、激发光谱、EEM 激发‑发射矩阵三维图谱

激发波长依赖性评价；选配温控单元可做量子效率温度特性测试

样品兼容：粉体、荧光粉末、溶液、固体薄膜、片状荧光材料，非接触测量，样品形态适应性强。

光源配置：标配 150W 氙灯 + 光栅单色仪，激发波长 250‑700nm 软件自动切换扫描。

硬件模块化：测量单元、光源单元、检测单元相互独立，方便扩展选件；软件自动解析、导出 CSV 数据。

实际落地案例用途

案例 1：LED/OLED 荧光粉材料

对象：YAG 荧光粉、量子点粉末、色转换膜；

用途：测量荧光粉量子产率，评估材料发光效率，研发、来料品质管控。

案例 2：有机光电、染料光敏材料

对象：有机发光材料、光敏染料、光动力治疗试剂；

用途：溶液 / 薄膜状态下量子效率评价。

案例 3：生物、化学新材料

对象：荧光探针、包接化合物、发光高分子薄膜；

用途：光物理性能筛选，EEM 三维荧光图谱解析。

案例 4：钙钛矿、染料敏化太阳能电池

对象：光吸收层薄膜；

用途：发光量子效率评价，辅助电池材料性能评估。

可选配件

温控样品台：量子效率温度依存性测试

近红外扩展光谱单元（360‑1100nm）

粉体专用夹具、液体比色皿套件

标准参考荧光校准样片