OTSUKA 大塚电子 高灵敏度近红外量子效率测量系统 QE‑5000
品牌：日本大塚电子/Otsuka
产地：日本
型号：QE-5000
400-616-7676转3323
仪器介绍
OTSUKA 大塚电子 高灵敏度近红外量子效率测量系统 QE‑5000
特色
能够测量单重态氧产生率0.01%或更低的量子产率
轻松且直接观测单极氧（1270nm）光谱
可在水溶剂中进行生物学应用及类似目的的测量
使得在轻溶剂中进行测量，这在传统方法中较为困难
使用不使用液氮的冷却检测器
测量只需10分钟准备时间即可开始
支持液体样品、粉末样品及各种样品
应用领域
染料敏化反应中单重态氧谱的测量
光敏剂的评估（单态氧气产生能力等）
PDT试剂※发展
太阳能电池材料的评估
半导体纯度评估
* 一种称为PDT（光动力疗法）和光动力疗法的癌症治疗方法
核心参数：
| 表单字段 | QE‑5000 填写值 |
|---|---|
| 光谱范围 | 300‑1600nm（紫外‑可见‑近红外）大塚电子(... |
| 光斑尺寸 | 随样品夹具适配，激发光斑数 mm 级别 |
| 入射角 | 积分半球漫采集，无固定入射角 |
| 测量速度 | 多通道阵列传感器采集，数秒完成单次测量 |
| 单次测量时间 | 数秒 / 样品；整机准备时间约 10min 即可测量大塚电子(... |
| 样品尺寸 | 兼容粉体、溶液比色皿、薄膜固体；固体样品≤100×100mm |
| 光谱测试间隔 | 1.4nm(300‑950nm)；1.9nm(900‑1600nm)大塚电子(... |
| 膜厚测量准确度 | 无此项参数☑勾选（本机测量子产率） |
| 测量重复性 | 单线态氧量子产率最低可测 0.01% 级别，重现性优异大塚电子(... |
| 直射测量准确度 | 无此项参数☑勾选 |
产品详细介绍
QE‑5000 是面向近红外弱发光的专用高灵敏度绝对量子效率系统，区别于可见光段的 QE‑2100；核心亮点：检测器无需液氮制冷，免除液氮维护，可直接观测 1270nm 单线态氧特征发光，支持水相溶剂样品测试，传统仪器很难实现轻溶剂 / 水相条件下的单线态氧检测。
核心测量项目
绝对量子产率（IQE 内部量子效率），覆盖紫外‑可见‑近红外 300‑1600nm；
单线态氧生成量子产率（1270nm 近红外发光检测），最低检出 0.01% 量子产率；
激发光谱、发射光谱、EEM 激发发射矩阵；
适配样品形态：水溶液、有机溶剂溶液、荧光粉体、固体薄膜。
硬件配置
积分单元：φ150mm 积分半球 Half‑Moon；
光源：150W 氙灯，激发波长 250‑800nm 自动扫描；可追加激光激发选件；
检测器：512 通道 InGaAs 阵列冷却检测器，不需要液氮，开机约 10 分钟就绪，16bit AD 分辨率；
软件：自动扣除再激发荧光干扰，CSV 数据导出，光谱图谱输出。
