OTSUKA 大塚电子彩色滤光片光谱特征测量装置 LCF 系列

OTSUKA 大塚电子彩色滤光片光谱特征测量装置 LCF 系列

它非常适合FPD生产过程中的所有检查，如色彩滤光片的光学性质检测和玻璃基底的薄膜厚度测试。

特色

一种能够处理彩色滤光片制造过程中所有检测的设备，包括透射光谱测量、色彩测量、浓度测量、胶片厚度测量和反射光谱测量。

适用于多种评估，如彩色滤光片的光学性能和玻璃基板上的薄膜分析。

通过自动对焦和自动像素对准功能，实现高精度测量，并支持通过配方注册实现全自动检查。

测量项目

核心参数：

产品详细介绍

LCF 系列是 FPD 平板显示行业彩色滤光片 CF 工序的标杆检测设备，分为实验室离线台式机型、产线在线 Inline 机型两大形态。

核心优势：非接触无损检测，不需要对基板切片取样；依靠像素自动对位，精准定位 R/G/B 子像素，对每一个像素做光谱色度评价，避免跨像素测量带来数据偏差。

软件 Recipe 配方登录，可实现全自动批量检测；输出光谱、色度、OD 浓度、膜厚全套数据，导出 CSV 报表，用于品质判定。

模块化选配：可增加反射测量、OD 浓度测量、像素尺寸测量、PMT 高灵敏检测模块；可拓展紫外、近红外波段模组。

产线版可对接面板工厂自动化基板搬运系统，集成 CF 产线，实现流水线在线全检；实验室版本用于研发打样、小批量基板评价。

实际落地案例用途

案例 1：LCD/OLED 彩色滤光片 CF 基板品质管控

对象：LCD 彩色滤光片基板、OLED 彩膜基板；R/G/B 色阻、BM 黑矩阵；

用途：检测各色阻层透射光谱、色坐标、色差，黑矩阵 BM 的 OD 遮光浓度；监控批次之间颜色一致性，研发调色、来料、制程品质判定；面板行业大量导入 G6‑G10.5 产线 Inline 设备。

案例 2：显示光刻胶材料开发验证

对象：彩色光刻胶、BM 黑矩阵材料、OC 保护层、PI 配向膜；

用途：评估光刻胶成膜后的光谱透过、色度、膜厚，筛选材料配方，实验室台式 LCF 做小样评价。

案例 3：Mini‑LED、Micro‑LED 彩膜基板检测

对象：高 PPI 微小像素彩膜基板；

用途：依靠 2μm 微小光斑，对微小子像素单点光谱色度检测，评价像素色彩均匀性。

案例 4：光学滤光片、光学膜片研发

对象：光学彩色滤光片、色转换膜；

用途：测量膜片透射光谱、色度、膜层厚度与光学常数 n/k 解析。