KOSAKA 小坂研究所粗糙度・轮廓形状一体机 SEF580A‑G18D
品牌：小坂研究所
产地：日本
型号：SEF580A‑G18D
400-616-7676转3323
仪器介绍
KOSAKA 小坂研究所粗糙度・轮廓形状一体机 SEF580A‑G18D
可以测量两种类型：“表面粗糙度”和“轮廓形状”。 通过触摸面板，它提供了出色的操作性，如切换测量条件，使得对各种工件进行快速测量。
表面粗糙度测量
单一测量可以分析不同标准的参数，使得向新标准的过渡更加顺畅。
轮廓形状测量
最大X轴测量采样可达64,000个点，支持高分辨率的长距离测量。
表面粗糙度
轮廓形状
核心参数：
| 项目 | SEF580A‑G18D |
|---|---|
| 测量方式 | 触针接触式；同时支持粗糙度 + 轮廓形状两套测量kosakalab |
| 【粗糙度模式】Z 量程 / Z 分辨率 | 600 μm / 0.08 nm |
| 粗糙度触针 | R2 μm，测力≤0.75 mN |
| 【轮廓模式】X 轴扫描行程 | 100 mm |
| 轮廓 Z 轴行程 | 50 mm |
| 轮廓精度 | Z：±0.25%；X：±(1+0.02L) μm（L = 测量长度 mm） |
| 轮廓触针 | R25 μm，测力 10‑30 mN |
| 扫描速度 | 0.02‑10 mm/s 可调 |
| 采样点数 | 最大 64000 点，长距离高分辨率采集kosakalab |
| 操作方式 | 触控面板 + 按键，U 盘导出 CSV 测量数据 |
产品详细介绍
SEF580A‑G18D 是小坂台式二合一机型，一台设备同时完成表面粗糙度评价与二维轮廓形状解析，区别于单纯粗糙度 SE 系列、单纯轮廓 EF 系列。
触控操作，一次扫描可输出多套国标 / ISO 粗糙度参数；
轮廓可解析 R 角、圆弧、台阶高度、沟槽、角度、形位公差；
花岗岩底座，整机台式固定放置，用于实验室研发、来料检验；
支持 USB 存储输出测量报告，可对接电脑分析软件。
产品线简单区分
SEF580A‑G18D：粗糙度 + 轮廓一体机
SE800：侧重粗糙度，轮廓能力弱于 SEF 系列
EF800：只做几何轮廓，不能测粗糙度 Ra
实际落地案例用途
精密机械零部件：轴承、齿轮、密封件、模具，同时检测表面粗糙度与截面轮廓 R 角、台阶；
半导体 / FPD：光刻沟槽、镀膜台阶、光学模仁，评价表面纹理与截面形状；
光学行业：硬质镜片、模压光学模具，粗糙度 + 曲率轮廓同步检测；
汽车零部件研发：喷嘴、精密阀件，研发与出货品质检验。
可选配件
多种金刚石触针（R1μm/R2μm/R25μm）；
电动 XY 载台，实现多点 Mapping 扫描；
各类工件夹具、V 型块；
粗糙度 / 轮廓标准校准样板。
