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核心参数
光谱范围
可见
按探测器
CCD
光谱范围
250~1650 nm
分辨率
≤4 nm(狭缝25μm)
灵敏度
双探测器组合,紫外可见高灵敏 CCD + 近红外 InGaAs 探测器
信噪比
≥400:1
动态范围
16bit
杂散光
<0.1%
仪器介绍
日本Lambda Vision拉姆达光纤光谱仪SA-100VR
SA-100VR是一款低成本光纤光谱仪,覆盖紫外~近红外。
紫外线220nm~近红外1650nm
SA-100VR最初是作为国产低成本光谱仪开发的。
该光谱仪能以低成本测量220nm~近红外1650nm紫外波段。
配备内置CCD探测器和InGaAs探测器。

■ 探测器单元性能
CCD部分
| 元素数量 | 2048年CH |
|---|---|
| 像素 | 0.014×0.2毫米 |
| 元素配置文件 | 28.672×0.2毫米 |
| A/D | 16位 |
InGaAs部门
| 元素数量 | 512CH |
|---|---|
| 像素 | 0.025×0.5毫米 |
| 元素配置文件 | 12×0.2毫米 |
| A/D | 16位 |
■ 使用的组件
| 由滨松热能制造 | 表面入射CCD线性图像传感器S11151-2048![]() |
|---|
■ 光谱部分性能
:可视性部分
| 焦距 | f = 70毫米 |
|---|---|
| 光学格式 | 切尔尼-塔纳型 |
| 波长范围 | 220nm~1000nm (如需更改波长范围请说明) |
| 结局 ※1 | 约0.8nm/CH 有效分辨率FWM=约2纳米(10微米狭缝处) |
| 光照事件科 | SMA连接器 (FC连接器可更换/FC无法更换缝隙) |
请从“10、25、50、75、100、200、300、500”选项中选择狭缝宽度(μm)。
你可以从几种狭窄的开缝中选择,由用户自行更换。
近红外段
(狭缝与可见性段共用)。 因此,分辨率性能由入射率下的公共狭缝决定。 )
| 焦距 | f = 50毫米 |
|---|---|
| 光学格式 | 切尔尼-塔纳型 |
| 波长范围 | 900nm~1650nm (如果你想更改波长范围,请说明) |
| 结局 ※1 | 约1.5nm/CH 有效分辨率 FWM = 约4纳米(25微米缝隙处) |
■ 整体表现
| 界面 | USB2.0 |
|---|---|
| 电源 | 电源(12V2A) |
| 操作系统 | Windows7 / 8 / 8.1 32/64位 |
| PC规格 | 内存/2GB或以上,硬盘/100GB或以上可用空间 |
SA-100VR 是 SA100 系列双探测器宽波段光纤光谱仪,内置CCD(可见光)+InGaAs(近红外)两组探测单元,一台设备同时覆盖紫外、可见、近红外全波段 250~1650nm,解决单探测器光谱仪无法同时覆盖紫外到近红外的痛点。 整机为分光探测主机(不含内置光源,光源需外接),SMA 光纤接口,USB 电脑通讯,用于反射光谱、透射光谱、吸光度测试;可搭配光纤探头、积分球、显微光路、样品台,适配实验室研发与产线在线监测。
区别 SA-100W:SA100W 单 CCD、内置光源,波段 220~1000nm;SA100VR 双探测器,UV-VIS-NIR 宽波段,无内置光源。
双探测器一体化搭载 CCD 阵列传感器(紫外可见段)+InGaAs 线性传感器(近红外段),单台光谱仪直接覆盖 250~1650nm,不用两台光谱仪拼接。
模块化光路,可外接各类光学附件支持反射探头、透射样品池、积分球、显微分光探头,可直接搭配 LVmicro 显微平台做微区光谱测试。
泽尼塔纳光栅分光光学结构,焦距 70mm,杂散光低,宽波段下光谱稳定性好。
USB 通讯,配套 SpectraView S 软件,实时采集光谱曲线,自动计算反射率、透射率、吸光度,支持基线校正、批量数据导出。
波段可定制,狭缝规格可选,适配弱信号、高分辨率不同测试需求。
可集成自动化产线,用于薄膜、光学元件在线光谱监控。
增透膜、高反膜、红外光学薄膜、滤光片、红外窗口片紫外到近红外全波段反射 / 透射光谱检测;
红外透镜、光学基片来料检验,评估镀膜均匀性;
光学材料折射率、光学常数全光谱表征。
晶圆多层薄膜、钝化层、红外光芯片 MEMS 器件宽波段光谱检测;
硅基、红外光电器件的反射光谱测试;
产线在线监控薄膜工艺稳定性。
OLED、量子点、红外荧光材料、色转换膜,从紫外到近红外的光谱采集;
光学复合膜、红外功能膜的光谱特性、老化衰减测试。
二维材料、纳米涂层、红外发光材料、光催化材料全波段光谱表征;
粉体、薄膜样品紫外 - 可见 - 近红外反射 / 透射 / 吸光度测试;
红外光学、光子晶体相关课题研究。
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