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核心参数
光谱范围
可见
按探测器
CCD
光谱范围
220~1000 nm
分辨率
≤1 nm
灵敏度
高灵敏度 CCD 阵列探测器,外接光源使用
信噪比
≥450:1
动态范围
16bit
杂散光
<0.1%
仪器介绍
日本Lambda Vision拉姆达 光纤光谱仪SA-100A 
SA-100A 是一款具有代表性的低成本光纤光谱仪。
低成本光纤光谱仪
SA-100A最初被开发为国产低成本光谱仪。
该光谱仪能以低成本测量220nm~近红外1000nm紫外波段。
■ 探测器性能
| 元素数量 | 2048年CH |
|---|---|
| 像素 | 0.014×0.2毫米 |
| 元素配置文件 | 28.672×0.2毫米 |
| A/D | 16位 |
■ 使用的组件
| 由滨松热能制造 | 表面入射CCD线性图像传感器S11151-2048![]() |
|---|
■ 光谱性能
| 焦距 | f = 70毫米 |
|---|---|
| 光学格式 | 切尔尼-塔纳型 |
| 波长范围 | 220nm~1000nm (如需更改波长范围请说明) |
| 结局 ※1 | 约0.8nm/CH 有效分辨率FWM=约2纳米(10微米狭缝处) |
| 光照事件科 | SMA连接器 (FC连接器可更换/FC无法更换缝隙) |
请从“10、25、50、75、100、200、300、500”选项中选择狭缝宽度(μm)。
你可以从几种狭窄的开缝中选择,由用户自行更换。
■ 整体表现
| 界面 | USB2.0 |
|---|---|
| 电源 | PC电源总线电源 |
| 操作系统 | Windows7 / 8 / 8.1 32/64位 |
| PC规格 | 内存/2GB或以上,硬盘/100GB或以上的可用容量 。USB总线电源必须至少0.5A。 |
SA-100A 是日本 Lambda Vision(拉姆达)SA100 系列紧凑型紫外 - 可见光纤光谱仪,属于模块化光栅分光光谱检测主机,本机无内置光源,需要搭配外部光源使用。整机采用泽尼塔纳(Czerny-Turner)光学光路结构,搭载滨松 CCD 阵列探测器,兼顾检测灵敏度与光谱分辨率。配备标准 SMA905 光纤接口,拓展能力强,可自由搭配各类光纤探头、积分球、透射样品支架、显微分光平台,实现透射率、反射率、吸光度、荧光光谱、发射光谱等多种光学测量。 设备采用 USB2.0 通讯,配套 SpectraView S 专业光谱分析软件;内置电子快门,可采集暗光谱自动扣除背景噪声,有效降低环境干扰,提升弱光测试稳定性。整机体积小巧,既可以放置在实验室光学平台做样品表征,也可嵌入自动化设备、产线工位,实现在线连续光谱监测。 标准光谱覆盖220~1000nm紫外 - 可见光区间,可根据客户需求,定制狭缝、光栅,平衡分辨率与光通量,适配不同应用场景。
同系列型号区分
SA-100A:基础主机,单 CCD,无内置光源,外接光源使用
SA-100W:同 SA-100A 主机,集成内置氘卤复合光源,开箱即可做透射 / 反射测试
SA-100VR:CCD+InGaAs 双探测器,UV-VIS-NIR 宽波段,覆盖紫外、可见、近红外,无内置光源
光谱范围:220~1000 nm(紫外 - 可见)
探测器:CCD 阵列探测器(滨松 CCD)
光学结构:Czerny-Turner 泽尼塔纳光栅分光
分辨率:≤1 nm
信噪比:≥450:1
动态范围:16bit
杂散光:<0.1%
光纤接口:SMA905
通讯:USB2.0
快门:内置电子快门,支持暗光谱采集
模块化高拓展性SMA905 通用光纤接口,可快速更换反射探头、透射探头、积分球、光纤导光组件,还可以对接 LV 系列显微分光平台,实现微小区域微区光谱检测。一套主机可适配多种测试方案,降低多台仪器采购成本。
低杂散光,弱信号检测稳定精密光栅与光路设计,杂散光水平低,适合低透过薄膜、弱吸收样品、低反射样品的光谱测试,减少杂光带来的数据偏差,测试重复性好。
软件功能齐全,支持批量自动化配套 SpectraView S 光谱软件,可实时采集光谱曲线,自动计算透射率、反射率、吸光度,支持基线校正、峰值检索、光谱比对、数据批量导出,可输出测试报告;支持二次开发,方便对接上位机、PLC,集成到自动化产线。
体积小巧,易于设备集成机身紧凑,占用空间小,无需复杂的光学平台,可直接嵌入真空腔体、检测工装、在线产线,适合工业在线监测、自动化设备配套。
洁净工业友好,适配精密制造无复杂外置光路,抗震动性能优于大型台式光谱仪,适合半导体、光学镀膜、显示行业洁净车间使用。
用于光学镜片、石英窗口片、蓝宝石基片、AR 增透膜、高反膜、分光膜、滤光片的透射光谱、反射光谱检测。
研发端:膜系开发,验证镀膜设计,分析膜层吸收、干涉曲线;
来料 / 成品质检:批量检测镜片透光率、反射率,判断镀膜均匀性,识别针孔、膜层脱落等缺陷;
薄膜厚度检测:利用光谱干涉原理,测量透明薄膜厚度; 适用:光学镜头、激光镜片、车载光学元件、红外窗口、光学滤光片生产企业。
晶圆表面薄膜(光刻胶、氧化层、钝化层)反射光谱测试,用于薄膜厚度测量与工艺监控;
LED、Mini/Micro LED 芯片、光探测器光学特性检测,测试发光光谱、反射吸收特性;
MEMS、微型光学器件的光学表征,监控刻蚀、沉积工艺带来的光学变化;
真空腔体配套光谱监测,监测等离子体光谱,辅助判断干法刻蚀、沉积工艺终点。
偏光片、彩膜、背光膜组、AR 防眩光膜的透光率、反射光谱检测;
OLED 基板、光学功能膜老化实验,测试长时间光照前后光谱变化,评估耐候性;
屏幕色差、色坐标、光谱功率分布检测,用于屏幕品质管控;
MicroLED 巨量转移后芯片光学性能抽检。
二维材料、纳米涂层、高分子薄膜、陶瓷、粉体材料紫外 - 可见漫反射、吸收光谱测试;
材料禁带宽度、光学吸收特性表征;
光催化实验,监测反应物紫外吸收变化,评价催化效率;
各类新型光学材料、荧光材料的光谱基础研究,广泛用于大学、中科院各类研究所。
反应釜内液体吸光度在线监测,追踪化学反应进程,实时监控药液浓度;
染料、涂料、油墨的颜色光谱、吸收曲线测试,配色、色差管控;
电镀液、清洗药液、化工试剂透光率监测,用于产线过程质量控制;
搭配浸入式光纤探头,可直接伸入液体,实现非接触在线检测。
LED、卤素、氙灯等光源光谱功率分布、色温、显色指数测试;纺织品、印刷品、塑胶外壳的反射光谱、颜色量化检测,建立数字化颜色标准,替代肉眼主观判色。
配套光纤探头,对水体中有机物、有色污染物做紫外吸收快速筛查,水质现场快速光谱分析。
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