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仪器介绍
日本 Lambda Vision 拉姆达平面基板透射率反射率测量单元 LV-RTM 
低成本平面基板透射/反射率测量单元LV-RTM
这是一种极其紧凑且成本低廉的平面基底透射/反射率测量装置。
这是一种非常紧凑的平面基板透透/反射率测量单元,可以安装在桌面上。
通过积分球,测量可以“轻松”、“任何人"且“可重复”,成本低。
此外,该测量方法对样品厚度或倾斜变化的影响较小。
<特征>
外径值(吸光度)也可以测量。
颜色可通过CIE和UCS地图直观识别。
遮光罩能阻挡散射光。
规格
| 测量波长 | 380nm~1000nm(卤素灯) *300nm~范围请另行咨询 |
|---|---|
| 测量细节 | LV-RTM(R) 反射率 LV-RTM(T) 透射率 LV-RTM(RT) 反射率/透射率 |
| 重复性 | ±1%(380nm~400nm) ±0.5%(400nm~800nm) ±1%(800nm~1000nm) |
| 反射参考 | BK7参考板,铝高反射率参考板(校准值在LV) |
| 透明度参考 | 10%和50%透射率参考滤波器(校准值为LV) |
| 软件 | 透射率、反射率、外径、色彩测量(XYZ、xy、L*a*b*等) |
LV-RTM 是日本 Lambda Vision(拉姆达)推出的经济型台式平面基板分光测量单元,采用积分球光学架构,整机一体化集成光源、积分球、样品台、CCD 分光检测模块,配套专用光谱色度分析软件,开箱即可完成样品光学性能检测,无需用户自行搭建光路。 产品分为 3 个细分型号,按需选型:
LV-RTM(R):仅反射率测量
LV-RTM(T):仅透射率测量
LV-RTM(RT):透射 + 反射一体化测量(市面采购最多的主力型号)
标配卤素光源,标准测量波段380~1000nm 可见光区间;可定制拓展至 300nm 紫外波段。依托积分球采集漫反射、全透射信号,对样品轻微倾斜、基板厚度差异不敏感,搭配遮光罩隔绝环境杂散光,普通实验室环境即可稳定测试,无需暗室。 出厂附带校准基准套件:BK7 反射基准板、铝高反射板、10%/50% 透射标准滤片,全部附带原厂校准赋值,保障测量数据具备计量溯源能力。软件可输出光谱曲线、OD 吸光度、色度参数(XYZ、Lab*、xy 色坐标、ΔE 色差),支持数据保存、批量导出、自动生成检测报告,兼顾材料研发、来料检验与成品品质抽检。
测量波长范围:380~1000nm(可定制拓展至 300nm 紫外)
测量项目:透射率、反射率、OD 吸光度、色度参数 Lab*/xy/XYZ
重复再现性:400~800nm ±0.5%;380~400nm、800~1000nm ±1%
光学结构:积分球分光系统
探测器:CCD 阵列探测器
光源:卤素光源
配套基准件:BK7 基准反射板、铝高反射板、透射标准滤片(带原厂校正数据)
积分球光学设计,样品容错性强普通分光光度计对样品摆放角度、平整度非常敏感;LV-RTM 使用积分球收集全部透射 / 漫反射光,薄片、薄膜、轻微翘曲基板依然可以稳定测量,降低样品前处理难度。
一机多参数同步输出,兼顾光谱与色度除基础透射、反射光谱之外,直接输出光密度 OD 值、色坐标、色差 ΔE,光学膜、彩色基板可一次性完成光学性能与颜色评价,不用多台仪器分开测试。
内置遮光罩,环境抗干扰能力强自带遮光结构,阻挡环境杂散光干扰,在普通实验室、质检车间环境下都能保证测量重复性,无需搭建暗室,降低实验室改造投入。
配套原厂校准基准件,便于定期校验出厂自带标准校准片,操作人员可定期做基线校准,保证长期测试数据稳定,满足企业质检、实验室计量溯源要求。
台式紧凑型设计,操作门槛低整机体积小巧,放置在普通实验台即可;软件界面简洁,非光学专业人员也能快速上手,适合研发小样测试、产线离线抽检。
软件功能完善,支持批量数据管理配套光谱分析软件,实时显示光谱曲线,支持基线校正、峰值检索、光谱比对、批量存储与报告导出,可用于批次对比、老化实验数据记录。
用于石英基板、蓝宝石窗口片、光学镜片、AR 增透膜、高反膜、分光膜、ND 衰减片、光学滤光片的透射光谱、反射光谱、OD 光密度检测。 研发阶段用于膜系设计验证,比对实测光谱与理论仿真曲线;生产端用于来料检验、成品抽检,判断镀膜均匀性,识别膜层针孔、脱落、光学偏差缺陷,是光学镀膜企业实验室标配设备。
检测偏光片、彩膜、背光膜组、AG/AR 防眩光膜、盖板玻璃的透光率、反射光谱、色度与色差。 评估光学膜老化前后光谱衰减,监控批次之间颜色一致性;用于显示材料配方开发、来料入库检验、成品光学品质管控,广泛应用于面板、光学膜材厂商质检实验室。
透明保护盖板、光刻胶薄膜、氧化层、钝化层薄膜的透射、反射光谱测试;LED、光电探测器配套光学窗口、保护薄片光学性能表征;评价透明半导体薄膜的吸收特性,用于光电子器件研发与来料质检。
高分子 PET/PI 薄膜、纳米涂层、透明陶瓷、粉体材料的紫外 - 可见漫反射、吸收光谱测试;光催化、透明材料光学禁带宽度、光学吸收特性表征;各类新型光学薄膜、透明复合材料的基础光学表征实验,大量应用于大学、材料研究所。
透明涂层、有色塑料板材、光学胶、树脂薄膜的透光率、反射光谱、色差检测;用于涂料、油墨配方开发,评估不同配方带来的透光、色彩变化,建立数字化颜色管控标准,替代肉眼主观判色。
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