Hamamatsu 滨松背照式 sCMOS 相机C14440-20UP
400-616-7676转3323
核心参数
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核心参数
图像分辨率
2304(H) × 2304(V)
像素尺寸
6.5 μm × 6.5 μm
芯片尺寸
14.976 mm × 14.976 mm
读出速度
CoaXPress：89.1 fps；USB3.0：30 fps
动态范围
21400:1
量子效率
峰值 95%
仪器介绍
Hamamatsu 滨松背照式 sCMOS 相机C14440-20UP
特点
高分辨率：2304 × 2304（530 万像素）
高速：100 帧/秒（2304 × 2048 ROI 时）
动态范围：21,400:1
像素尺寸：6.5 μm × 6.5 μm
读取噪声：0.7 个电子 rms（超静音扫描）
Prnu：0.06%（@ 7500 个电子）
DSNU：0.06 个电子
峰值 QE：80 %
用于高级成像的专利工具：光片读出模式
光片读出模式 [专利]
“光片读出模式”是滨松 sCMOS 相机的独特专利功能，可提高光片显微镜中的信噪比。
型号全称：ORCA-Fusion C14440-20UP，滨松 ORCA 系列经典旗舰背照减薄 sCMOS 相机，是 C15440-20UP（ORCA-Fusion BT）的前代基础版本，主打低噪声、高量子效率，广泛用于科研显微与高端工业弱光荧光检测。
一、核心技术参数
| 表单项目 | 参数值 |
|---|---|
| 图像分辨率 | 2304(H) × 2304(V) |
| 像素尺寸 | 6.5 μm × 6.5 μm |
| 芯片尺寸 | 14.976 mm × 14.976 mm |
| 读出速度 | 全分辨率 89.1 fps（CoaXPress 双 CXP6）；USB3.0 为 30 fps |
| 相机内存 | 无此项参数 |
| 动态范围 | 21400:1 |
| 量子效率 | 峰值 95%（可见光）；365nm 紫外波段约 32% |
二、核心产品优势
超高量子效率 QE 95%背减薄工艺，可见光峰值 QE 高达 95%，微弱荧光光子收集能力极强，365nm 紫外波段响应优秀，适配你的 365nm 紫外荧光缺陷检测。
超极低读出噪声Ultra Quiet 模式最低 0.7e⁻ RMS 读出噪声，接近单光子分辨能力，痕量微弱荧光斑点信噪比大幅提升，检出微小缺陷能力强。
双接口设计
CoaXPress（双 CXP6）：全分辨率 89.1fps 高速采集，适合动态、产线高速检测；需要 CXP 图像采集卡
USB3.0：无需采集卡，直接 USB 连接 PC，静态成像、实验室使用，30fps 满帧
优异的图像均匀性DSNU/PRNU 噪声极低，图像背景均匀，大面积扫描时背景明暗差异小，适合大面积工件、切片扫描。
帕尔贴深度制冷风冷制冷可将芯片降温至 - 5℃，极大抑制暗电流，支持数秒长时间曝光，适合极弱荧光成像。
三、案例与用途（科研 + 工业机器视觉，适配你的 365nm 紫外荧光方案）
🔬1. 生命科学显微（原厂核心应用）
TIRF 全内反射荧光、单分子荧光成像0.7e⁻极低读出噪声，捕捉单分子微弱荧光信号，用于膜蛋白、分子动力学观测。
光片荧光显微镜（Lightsheet）89.1fps 高速 + 低噪声，活体生物动态三维成像，追踪活细胞快速运动。
转盘共聚焦、结构光超分辨显微高信噪比，适配动态活细胞成像。
病理荧光切片数字化扫描靶面适中，高 QE，大面积荧光切片扫描。
🧪2. 工业机器视觉（你的项目：365nm 紫外荧光缺陷检测）
搭配 CCS LSW6-GT-8NS 365nm 环形紫外光源：
高灵敏度紫外荧光缺陷检测检出高分子材料、光学元件、精密零部件表面极微弱荧光杂质、微裂纹、溢胶、胶点缺失；
光路：365nm 紫外环形照明 → 样品激发荧光 → 发射滤光片 → C 口镜头 → ORCA-Fusion 相机采集。
材料自发荧光、涂层老化、痕量污染物荧光成像
半导体光学元件、晶圆表面微量污染物荧光检测
