Shibuya涉谷光学近红外高吸收遮光片SBIR-S

Shibuya涉谷光学近红外高吸收遮光片SBIR-S

品牌:shibuya涉谷光学
产地:日本
型号:SBIR-S

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仪器介绍

Shibuya涉谷光学近红外高吸收遮光片SBIR-S

光阻隔片 Super Black IR 是一种薄层绒面软板,由聚氨酯树脂制成,具有极佳的耐磨性。其表面积极为细微,具有极其细微的微孔隙,能够实现无与伦比的光线排斥和吸收,从而能消除所有不必要的不规则反射。利用该表,光谱反射在250nm至2500nm范围内可轻松限制在1.6%以内。而且光的吸收率非常高,尤其是在近红外范围内。

它可以用于任何光学仪器系统,如测量设备、相机、光谱仪和传真机等,并屏蔽或吸收所有不必要的光线。例如,如果你在反射侧放置超黑红外,几乎所有额外的不规则反射都会被吸收,因此你可能会获得极佳的光谱效果和非常清晰的图像。

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反射率测量表

以下数据仅供参考。涩谷对使用这些数据的人没有法律义务。

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SBIR-S 属于Light Exclusion Sheet Super Black IR系列,是聚氨酯基材黑色吸光遮光片(带背胶),主打近红外波段杂散光抑制,和 SNR-T50/N50 同属光线阻隔吸收类光学膜材,但光谱特性侧重红外吸收。
一、完整规格参数

项目参数详情
型号SBIR-S
产品名称Super Black IR 遮光吸收片(Sheet 型)
基材聚氨酯树脂(Polyurethane),填充微多孔结构
尺寸500×450mm,厚度 0.4mm,背面自带压敏背胶
光谱反射率250nm~2500nm 波段反射率<1.6%;近红外区域吸收性能远优于 SNR 系列
特性耐磨、低漫反射、可冲切加工;RoHS 合规
形态片状板材,可裁剪成任意形状贴在镜筒、腔体内壁
参考价格8800 日元 / 片(不含税)

二、产品核心特点

  1. 宽波段超低反射,红外吸收强化微多孔特殊表面结构,可见光到近红外 2500nm 全波段抑制杂散光;普通 SNR 系列主打可见光,SBIR-S 在700~2500nm 近红外吸收能力更强,红外光路首选。漫反射极低,大幅减少腔体内部散射光,提升成像对比度。

  2. 聚氨酯基材,耐磨耐刮对比 SNR 系列 PET 基材,SBIR-S 表面耐磨性更好,装配过程不容易刮花掉粉,洁净车间、半导体设备内部使用更稳定。自带背胶,直接粘贴镜筒、光学腔体内壁。

  3. 易加工裁剪板材可冲切、裁切,做成异形垫片,适配各种狭小光学腔体。

  4. RoHS 环保材质满足工业设备环保要求,半导体、机器视觉设备可直接使用。

✅ 和 SNR-T50 对比区分

  • SNR-T50:PET 基材,可见光优先,用于白光同轴光路(YP-250IL 这类白光光源)

  • SBIR-S:聚氨酯基材,近红外波段优先,红外成像、红外检测光路使用

三、实际案例用途

案例 1:近红外机器视觉检测设备腔体消光

红外相机 + 红外光源的晶圆 / 基板检测设备,腔体内部粘贴 SBIR-S,抑制红外杂散光反射,消除红外图像的雾感、眩光,提升缺陷识别精度。

案例 2:红外光学镜头、红外鱼眼镜头内部消光(FE-185-1.8 配套)

FE-185-1.8 鱼眼镜头如果用于红外全景检测,镜头镜筒内壁贴 SBIR-S,抑制广角镜头容易产生的红外杂散光。

案例 3:红外光谱、光学测试实验平台

搭建近红外光学测试系统,光阱、遮光隔板内壁粘贴,消除环境红外散射光干扰。

案例 4:半导体设备红外监测窗口遮光

真空腔体红外观察窗口周边遮光,抑制红外反射干扰红外监测相机。

案例 5:激光近红外光路杂散光抑制

近红外激光准直、聚焦光路(F20-D15 透镜光路),镜筒内壁贴 SBIR-S,减少激光散射。

四、选型 & 使用注意事项

  1. 波段区分:可见光普通白光检测优先 SNR-T50;近红外 700nm 以上光路,优先 SBIR-S。不要选错。

  2. 背胶粘贴:粘贴前保证腔体表面无尘干燥,洁净室装配注意防尘。

  3. 不可折叠过度:基材有韧性,但反复弯折会损伤表面微多孔吸光层,降低吸光性能。

  4. 温度限制:聚氨酯基材耐高温不如 PET,使用温度建议<80℃,高温腔体不推荐。


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