日本DENSOKU电测 荧光 X 射线薄膜厚度计EX-851
400-616-7676转3323
核心参数
核心参数
元素范围
Ti(Z22)～Bi(Z83)
样品室尺寸
200 × 200 × 90 mm
仪器介绍
日本DENSOKU电测 荧光 X 射线薄膜厚度计EX-851 
| 规模 | 295（W）×545（D）×365（H）[毫米] |
|---|---|
| 重量 | 15岁以下 [公斤] |
X射线荧光薄膜厚度计EX-851的特点
两种可选测量模式
您可以从两种模式中选择，实现
针对您应用的顺畅测量。
多测量与多校准曲线
注册坐标并
自动测量激光点照射位置的多个点。 多个点可以通过不同的校准曲线进行测量。
胶片厚度测量中的光谱显示
胶片厚度测量中的光谱显示：多通道光谱分析的高速光谱分析使得被测物体的光谱显示变得简单（处理速度约2~3秒）。
测量单元显示器屏幕显示
将X射线照射部分导入Windows屏幕并显示X射线照射部分。
启用了根据准直器变化放大倍率的放大功能。
自动测量模式
测量对象被放置在激光笔的位置，门关闭后，舞台自动移动，
测量过程自动进行。
手动测量模式
将测量物体设定在激光笔照射位置，门关闭后，舞台自动移动并
自动对焦。
配备自动对焦功能
配备激光自动对焦。
自动对焦，提升工作速度。
测量台移动精度：1微米
通过提高测量台的运动精度（比现有产品高50倍），它通过连续测量、坐标设置和移动到指定位置实现
精确的舞台移动。
采用双滤波器
除了气动滤光器外，采用机械滤器（双滤光器）确保测量始终在最佳条件下进行，以实现最高精度。
增强的报表创建功能
通过采用MS-Window软件，您可以轻松导入测量界面并增强报表创建功能。 通过多任务处理，你可以执行其他任务，包括在测量过程中创建报告。
内置五种准直器
对于最小为0.1φmm的准直器，可以进行超细测量。 标准：0.1、0.2、0.5、1.0、2.0。
此外，我们还提供特别版作为选项。
自我诊断与X光管维护功能
自我诊断功能能立即解决设备故障。 此外，还增加了显示X射线管使用时间和耐久性时间的功能，以支持维护安全。
荧光X射线薄膜厚度计EX-851的规格
| EX-851 | 测量表尺寸（毫米） | 200 x 200 | |
|---|---|---|---|
| 移动音量 | X（mm） | 200 | |
| Y（mm） | 200 | ||
| Z（mm） | 90 | ||
| 被测物体高度（毫米） | 90 | ||
| 尺寸（毫米） | 740（W） × 530（D） × 660（H） *不包括突出物 | ||
| 体重（公斤） | 85 | ||
| 样品载荷（公斤） | 1 | ||
| 计算机 | 尺寸（毫米） | 主体：182（西）×383（D）×372（H） | |
| 显示器：412（西）×415（D）×432（H） | |||
| 体重（公斤） | 主单元 6.8 / 显示器 2.8 | ||
| 打印机 | 体重（公斤） | 3.4 | |
| 电源 | AC100V±10V | ||
| X射线源 | 油浸式小型微焦点X射线管 |
|---|---|
| 目标：钨 | |
| 管电压：50kV | |
| 可变电子管电流 | |
| 照射方法 | 顶部的垂直照明方法 |
| 探测器 | 比例计数管 |
| 准直器 | 5种类型（自动切换） |
| 0.1， 0.2， 0.5， 1.0， 2.0Φmm | |
| （可选） | |
| : 0.05,0.1,0.2,0.3,0.5,Φ | |
| ： 0.05×0.5,0.5×0.05， 0.1， 0.2， 0.5gΦ | |
| 样本观察 | （CCD彩色相机（自动对焦） |
| 计算机 | PC/AT兼容 |
| 17英寸彩色显示器 | |
| 打印机 | 喷墨打印机 |
| 测量对象 | 原子序数为22（Ti）~ 82（Pb） |
| 原子序数低于21可以通过吸收测量 | |
| 滤波器 | 两种类型（Co、Ni）之间的自动切换 |
| 可测量范围 | 原子序数22~24：0.02~约20微米 |
| 原子序数25~40：0.01~约30微米 | |
| 原子序数41~51：0.02~约70微米 | |
| 原子序数52~82：0.05~约10微米 | |
| 校准曲线 | 自动校准曲线创建函数 |
| 多点校准曲线 | |
| 修正函数 | 碱性校正 |
| 应用 | 单层电镀测量 |
| 两层电镀测量 | |
| 三层电镀测量 | |
| 合金薄膜厚度成分比的同时测量 | |
| 无电镍测量 | |
| 测量功能 | 自动测量 |
| 输出样式设置 | |
| 光谱测量 | |
| 两点之间的距离测量 | |
| 自动表函数 | 自动对焦 |
| 测量位置规范（X-Y-Z） | |
| 原点校正函数 | |
| 测量位置确认函数 | |
| 自动校准 | |
| 数据处理功能 | 统计表示：均值、标准差、最大值、最小值、范围、CP、CPK |
| 直方图 | |
| 配置文件显示 | |
| 测量数据的三维显示 | |
| X-R控制图 | |
| 安全特征 | X射线电源键开关 |
| 失效保护功能 | |
| 其他功能 | 舞台坐标显示 |
| 设备维护与维护 |
