进口DENSOKU 电测 荧光 X 射线薄膜厚度计EX-731
品牌：日本 DENSOKU 电测
产地：日本
型号：EX-731
400-616-7676转3323
核心参数
元素范围：Ti－Bi
样品室尺寸：160 × 120 × 50 mm
核心参数
元素范围
Ti－Bi
样品室尺寸
160 × 120 × 50 mm
仪器介绍
进口DENSOKU 电测 荧光 X 射线薄膜厚度计EX-731
| 规模 | 2600（W）×465（D）×730（H）[mm] *不包括突出物 |
|---|---|
| 重量 | 手动档：79 手动档：85 [公斤] |
荧光X射线胶片厚度计EX-731的特点
采用双滤波器
除了气动滤光器外，采用两种机械滤波器——铝和镍——使得即使基底和薄膜原子序相邻也能实现高精度测量——镍对铜和铜对铜对锌。
自动化测量阶段
自动级型具备以下特点：
·连续自动测量 ・鼠标点击对准 ·两点间距离测量 ·全自动校准 ·画面内分布的日测量
统计处理函数
你可以展示和打印各种统计数据和图表。
缝隙盖
主盖有个开口，可以不用切割就量长件。
内置五种准直器
标配五种准直器：0.1、0.2、0.5、1.0和2.0mmφ。
此外，还可选配0.05毫米φ和0.05毫米φ×0.5毫米φ的准直器。
控制软件 ExWin
操作可通过Windows PC上的ExWin控制软件轻松完成。 使用电子表格软件及类似工具导入数据非常简单。
是窗型X光管
现在已经有窗户X光管了。 通过使用Be窗X射线管，可以使用0.05mmφ等小型准直器，以及Ti和Cr等轻元素进行高精度测量。
自动对焦，提升工作速度。
X射线荧光薄膜厚度计EX-731的规格
| 类型 | 手动舞台 | 自动舞台 | ||
|---|---|---|---|---|
| 测量头部 | 尺寸（毫米） | 170×110 | 300×280 | |
| 移动音量 | X（mm） | 70 | 80 | |
| Y（mm） | 70 | 60 | ||
| Z（mm） | 80（测量物体最大高度150） | 50 | ||
| 物体高度（最大） | 80（选项150） | 50 | ||
| 尺寸（毫米） | 600（W）×465（D）×730（H） | |||
| 体重（公斤） | 79 | 85 | ||
| 样品载荷（公斤） | 3 | 2 | ||
| 计算机 | 尺寸（毫米） | 主单元182（W）×383（D）×372（H）/ 监视器412（W）×415（D）x 432（H） | ||
| 主单元 6.8 / 显示器 2.8 | ||||
| 体重（公斤） | 3.4 | |||
| 电源 | AC100V+10V | |||
| X射线源 | 油浸紧凑型细焦点X射线管 靶：钨 管电压50kV ，管电流可变 |
|---|---|
| 照射方法 | 顶部的垂直照明方法 |
| 探测器 | 比例计数管 |
| 准直器 | 5种类型（自动切换）10.1 、0.2、0.5、1.0、2.0Φ 毫米（可选）： 0.05、0.1、0.2、0.3、0.5，Φ ：0.05×0.5、0.5×0.05、0.1、0.2、0.5Φ |
| 观察样本 | CCD彩色相机 |
| 计算机 | 兼容PC/AT的17英寸彩色显示器 |
| 打印机 | 喷墨打印机 |
| 测量目标 | 原子序数22（Ti）~82（Pb） 及原子序数21及以下可以通过吸收法测量 |
| 滤波器 | 两种类型（CO，Ni）之间的自动切换 |
| 可测量范围 | 原子序数22~24：0.02~约20微米; 原子序数25~40：0.01~约30微米; 原子序数41~51：0.02~约70微米; 原子序数52~82：0.05~约10微米 |
| 校准曲线 | 自动校准曲线创建函数：多点校准曲线 |
| 修正函数 | 碱性校正 |
| 应用 | 单层镀层测量 、两层镀层测量 、三层镀层测量 、同时合金薄膜厚度组分比测量 、无电镍测量 |
| 测量功能 | 自动测量 输出样式设置 、频谱测量 、两点距离测量 |
| 自动表函数 | 测量位置指定（X-Y-Z ），相同模式重复功能 ，原点校正函数， 测量位置确认，自动 校准 |
| 数据处理功能 | 统计显示：平均值、标准差、最大值、最小值、范围、CP、cpk 直方 图剖面显示 、测量数据、3D显示 X-R管理图表 |
| 安全特征 | X射线电源键开关 故障保护功能 |
| 其他功能 | 舞台坐标显示 密码 功能维护与维护 |
