进口大日本科研DNK专用掩膜对准曝光装置MUM 系列

进口大日本科研DNK专用掩膜对准曝光装置MUM 系列

品牌:大日本科研 DNK
产地:日本
型号:MUM 系列

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仪器介绍

进口大日本科研DNK专用掩膜对准曝光装置MUM 系列
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主要特长

采用独自的镜面・镜头光学系统,实现全面均匀的照射。

配备有可设定非接触・面内均一间隙的间隙传感器和对应多层曝光的显微镜、X・Y・θ轴对位台的对位系统。

采用Moving UV mask法(使用Piezo Positioning Stage,使掩膜在曝光中微细移动)能够控制厚膜光刻胶的侧壁倾斜角度,形成三维微细构造体。

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主要规格


MUM系列
掩膜尺寸Max 9″ x 9″ x t3.0 mm
基板尺寸Max Φ8″(Wafer)
光源超高压水银灯:500W or 1kW
外观尺寸及重量本体尺寸W2120 x D1305 x H1850 mm
本体重量640kg

※基板尺寸和水银灯瓦数及特殊规格可商洽

产品核心特点

  1. Moving UV mask 动态掩膜移动技术(MUM 核心卖点)曝光过程中压电载台带动掩膜微小移动,控制曝光能量分布,专门用来做厚光刻胶的斜面、曲面、三维立体微结构(MEMS、微流控),普通 MA 掩膜机只能做垂直侧壁图形。

  2. 自带间隙传感器,精准设定掩膜与基板非接触间隙;搭载 X/Y/θ 高精度对位台,支持多层套刻对位。

  3. 厚胶工艺适配,光刻胶可达几十微米级别,做出倾斜侧壁、半球型微结构。

基础规格表

项目MUM 系列
掩膜最大尺寸9″ × 9″,厚度最大 3.0mm
最大基板Φ8 英寸晶圆
光源超高压水银灯,500W / 1kW 可选
外形尺寸W2120 × D1305 × H1850 mm
重量640kg

行业用途

  1. MEMS 传感器:加速度、压力传感器三维结构制备

  2. 微流控芯片、微透镜阵列、光学元件

  3. 厚胶光刻工艺,需要倾斜侧壁、曲面立体结构的样品开发与小批量生产



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