日本进口MORITEX 茉丽特中功率红色同轴点光源MCEC-CR8

日本进口MORITEX 茉丽特中功率红色同轴点光源MCEC-CR8

品牌:MORITEX 茉丽特
产地:日本
型号:MCEC-CR8

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核心参数

光源种类:其它光源
照射方式:外照式光源

核心参数

光源种类

其它光源

照射方式

外照式光源

仪器介绍

日本进口MORITEX 茉丽特中功率红色同轴点光源MCEC-CR8
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一、原厂详细技术参数

  • 型号:MCEC-CR8

  • 发光颜色:红色

  • 峰值波长:620.5~645 nm

  • 最大额定电流:0.14 A

  • 重量:50 g

  • 配套控制器:MLEK 系列控制器(和茉丽特环形光源、背光光源通用,多通道可共用一台电源)茉丽特科技...

  • 光学结构:内置准直光路,输出平行匀光,直插 MML 远心镜头同轴接口

  • 同色系其他型号:MCEC-CG8(绿)、MCEC-CB8(蓝)、MCEC-CW8(白光)

三档横向对比(重点,方便你给客户选型)

  • MCEL-CR8:小功率,0.04A,亮度最低,成本最低

  • MCEC-CR8:中功率,0.14A,亮度中等,性价比首选

  • MCEP-CR8-070-3:大功率,0.7A,亮度最高,适合高要求产线

二、产品核心特点与优势

  1. 亮度高于 MCEL 小功率款,成本远低于 MCEP 大功率款照度约 45000lx(WD5mm),兼顾亮度和预算,是项目折中方案的热门选择;均匀同轴落射光,杂散光抑制好,镜面工件成像对比度稳定MORITEX Co...。

  2. 专为 MML 远心镜头同轴光路优化光学出光角度匹配 MML 内置同轴通道,不用额外转接光路,安装简单,直接锁在镜头同轴端口。

  3. 通用 MLEK 控制器,方案集成成本低MLEK 电源可以同时驱动环形光源、背光源、MCEC 点光源,一台控制器多路输出,减少设备内部电源数量,节省机柜空间。

  4. 体积小巧,可搭载在运动机构上重量轻、体积紧凑,适合安装在 XY 滑台、机器人末端等移动工位,不会给运动机构增加过多负载。

  5. 单色红光优势红光适合硅晶圆、金属抛光面、ITO 导电膜,色散小,软件边缘提取稳定,不容易出现过曝。

⚠️ 短板提醒

  1. 亮度不及 MCEP-CR8-070-3,高速、高反光强缺陷检出场景不够用;

  2. 只能搭配 MML 远心同轴口使用,不能独立作为外部光源;

  3. 必须使用恒流控制器 MLEK,不可直接接直流电源。

三、行业用途 & 案例分析

1. 半导体封测、晶圆 Mark 定位(主力场景)

用途:硅片定位标记、晶粒外观、焊盘表面划痕、脏污检查。 案例:半导体后段 AOI,对亮度要求不是极限高、想控制预算的工位,选用 MCEC-CR8 同轴红光,完成晶圆对位、焊盘外观筛查。相比 MCEP,整套光源 + 控制器成本明显降低,满足常规良率检测需求。

2. FPD、LCD/OLED ITO 导电玻璃检测

用途:ITO 线路断线、针孔、划伤、基板定位 Mark 识别。 案例:面板复检工位,透明导电薄膜在同轴红光下,细微断线、针孔更容易显现,斜光源很难检出这类平面薄膜缺陷。

3. 精密连接器、汽车电子端子镀层外观检查

用途:铜端子、镀金引脚表面压伤、划痕、镀层针孔。 案例:连接器 AOI,抛光金属反光强烈,同轴垂直照明消除杂乱反光,稳定捕捉表面微小瑕疵,适合常规批量抽检。

4. 影像测量仪、半自动量测设备改造

配套 MML 远心镜头搭建同轴照明,做零件轮廓、台阶、表面缺陷测量,适合实验室、半自动离线检测设备。

5. 光学零件、蓝宝石、陶瓷抛光面外观复检

抛光衬底表面划痕、麻点筛查,非超高产能、非超高检出规格的项目优先选这款。

✅选型快速判断

  • 预算有限、常规产能、一般反光工件 → MCEC-CR8

  • 产线 24h 高速、镜面强反光、要求极高检出率 → MCEP-CR8-070-3

  • 预算很紧、缺陷简单、只做定位 Mark → MCEL-CR8

外观图
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相对照度
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光谱特性数据
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光分布特性

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