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RE‑200
大塚电子RE-200高速相位差仪,单次测量<0.1秒,无机械驱动,重复性高。支持0-1000nm低延迟及光轴检测,可联用拉伸机评估动态光弹性。适用于产线抽检、薄膜形变及应力分析。
RETS‑100nx
大塚电子RETS-100nx延迟测量仪,支持0-60000nm宽范围高精度检测。具备多层膜无损解析及轴角自动补偿功能,无需剥离样品即可测Re/Rth。广泛用于OLED、LCD及车载光学薄膜研发与质检。
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客服电话:400-616-7676,3323
企业名称:美萨科技(苏州)有限公司
企业地址:苏州市高新区滨河路588号2幢B1005室 联系人:李梦凡 邮编:13162378218
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拉曼光谱仪
其他半导体检测仪
椭偏仪
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